VUE 400-P – Scanning Acoustic Microscope
Il VUE 400-P è un microscopio acustico a scansione (SAM) ad alte prestazioni progettato per l’ispezione non distruttiva di componenti elettronici, semiconduttori e materiali avanzati.
Sviluppato da PVA TePla OKOS, il sistema offre un’ampia area di scansione, un range di frequenze esteso e una piattaforma completamente integrata, ideale per laboratori R&D, controllo qualità e failure analysis.
Applicazioni principali
- Ispezione non distruttiva di semiconduttori e package elettronici
- Analisi di delaminazioni, voids, cricche e difetti interni
- Controllo qualità di assemblaggi incapsulati e multilayer
- Analisi di materiali compositi e bonding
- Misure di spessore (THK) e Time-of-Flight (TOF)
Caratteristiche chiave
- Sistema standalone, completamente integrato
- Ampia area di scansione: 380 × 360 mm
- Trasduttori supportati: da 1 MHz a 230 MHz
- Pulser-Receiver: 1 – 500 MHz
- ADC / Digitizer: 8-bit, 1–4 GHz
- Workstation con GPU NVIDIA
- Sistema operativo: Windows 11 Pro
- Peso sistema + accessori: 150 kg
