Applicazioni / Semiconduttori Sistemi di Ispezione NDT
PVA TePla OKOS - Mini VUE
Scanning Acoustic Microscope portatile
Fotric - 220Pro R&D
R&D Thermal Camera
Fotric - 220Link R&D
R&D Thermal Camera
Fotric - 600 Series
Fixed-mount infrared camera
Fotric - 600 R&D
600 R&D Microscopic Thermal Cameras La stazione di ricerca e sviluppo FOTRIC 600C offre insights potenti e all'avanguardia su circuiti stampati, c…
PVA TePla OKOS - NDT CF-300
Scanning Acoustic Microscope per NDT e Failure Analysis
PVA TePla OKOS - UT NDT System
Sistema di Controllo Ultrasonico Non Distruttivo
PVA TePla OKOS - Multi Axis XYZ-TT-GS
Industrial Immersion Scanning System
PVA TePla OKOS - SOLARVUE
Scanning Acoustic Microscope per moduli fotovoltaici
PVA TePla OKOS - MACROVUE-P NexGen
Scanning Acoustic Microscope per grandi superfici
PVA TePla OKOS - VUE 250P NexGen
Scanning Acoustic Microscope
PVA TePla OKOS - VUE 400-P NexGen
Scanning Acoustic Microscope
Show more

INFO