VUE 250-P – Scanning Acoustic Microscope
Il VUE 250-P è un microscopio acustico a scansione (SAM) compatto e ad alte prestazioni, progettato per l’ispezione non distruttiva di materiali, componenti e dispositivi elettronici.
Sviluppato da PVA TePla OKOS, il sistema combina ampia flessibilità di misura, risoluzione elevata e ingombri ridotti, rendendolo ideale per laboratori di ricerca, controllo qualità e failure analysis.
Applicazioni principali
- Ispezione non distruttiva di package elettronici e semiconduttori
- Analisi di delaminazioni, voids, cricche e difetti interni
- Controllo qualità su assemblaggi incapsulati
- Misure di spessore (THK) e Time-of-Flight (TOF)
- R&D su materiali compositi e multilayer
Caratteristiche chiave
- Sistema compatto da banco
- Peso complessivo (sistema + accessori): 80 kg
- Campo di scansione: 322 × 136 mm
- Trasduttori supportati: da 1 MHz a 230 MHz
- Sistema operativo: Windows 11 Pro
- Desktop dedicato con GPU NVIDIA
- Pulser-Receiver: 1 – 300 MHz
- ADC/Digitizer: 8-bit, fino a 1–4 GHz
